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Wafer Flatness Detection Surface Shape Detection Equipment

Ausrüstung zur Erkennung der Oberflächenform von Wafern zur Ebenheitserkennung

  • Markieren

    Oblatenflachheitsentdeckung Oberflächeninspektions-Ausrüstungen ZEIT

    ,

    ZEIT-Oblatenflachheitsentdeckung Oberflächeninspektions-Ausrüstung

    ,

    ZEIT-Oblatenflachheitsentdeckung Oberflächenform-Inspektions-Ausrüstung

  • Größe
    Kundengerecht
  • Kundengerecht
    Verfügbar
  • Garantiezeit
    1-jährig oder Fall für Fall
  • Versandausdrücke
    Auf Meer/dem Luftweg/multimodalem Transport, usw.
  • Herkunftsort
    Chengdu, VR CHINA
  • Markenname
    ZEIT
  • Zertifizierung
    Case by case
  • Modellnummer
    SSD-W-X—X
  • Min Bestellmenge
    1 Satz
  • Preis
    Case by case
  • Verpackung Informationen
    Holzschatulle
  • Lieferzeit
    Von Fall zu Fall
  • Zahlungsbedingungen
    T/T
  • Versorgungsmaterial-Fähigkeit
    Von Fall zu Fall

Ausrüstung zur Erkennung der Oberflächenform von Wafern zur Ebenheitserkennung

Oblaten-strukturelle helle Oberflächenform-Entdeckungs-Ausrüstung

 

 

Anwendungen

Oblatenflachheitsentdeckung.

 

Funktions-Prinzip

Die Punktwolkenverteilung und die Biegungsverteilung der gemessenen Oberfläche werden entsprechend berechnet

Deformation des hellen Streifens und die Oberflächenformfehlerverteilung können erreicht werden, indem man den Punkt vergleicht

Wolkenverteilung mit idealem Modell.

 

Eigenschaften

     Modell      SSD-W-X-X
     Messbereich      200×150mm2
     Querentschließung      Herkömmliche 0.25mm, justierbar
     Messende Präzision      Absoluter Fehler: ±3μm (100mm im Durchmesser)
Anmerkung: Kundengebundene Produktion verfügbar.

                                                                                                             

Entdeckungs-Bild

Ausrüstung zur Erkennung der Oberflächenform von Wafern zur Ebenheitserkennung 0

 

Unsere Vorteile

Wir sind Hersteller.

Reifer Prozess.

 

Antwort innerhalb 24 Arbeitsstunden.

 

Unsere ISO-Bescheinigung

Ausrüstung zur Erkennung der Oberflächenform von Wafern zur Ebenheitserkennung 1

 

 

Teile unserer Patente

Ausrüstung zur Erkennung der Oberflächenform von Wafern zur Ebenheitserkennung 2Ausrüstung zur Erkennung der Oberflächenform von Wafern zur Ebenheitserkennung 3

 

 

Teile unserer Preise und Qualifikationen von R&D

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