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Scratches Dusts Optical Testing Equipment Semiconductor Surface Detector 1.8μM

Kratzer Stäube optische Testgeräte Halbleiter-Oberflächendetektor 1,8 μM

  • Markieren

    Kratzer wischt optisches Testgerät 1.8μM ab

    ,

    1.8μM Scratches Dusts Optical Testgerät

    ,

    1.8μM Scratches Dusts Halbleiterdetektor Ausrüstung

  • Größe
    1210 mm*1000 mm* 1445 mm, anpassbar
  • Kundengerecht
    Verfügbar
  • Garantiezeit
    1-jährig oder Fall für Fall
  • Versandausdrücke
    Auf Meer/dem Luftweg/multimodalem Transport, usw.
  • Herkunftsort
    Chengdu, VR CHINA
  • Markenname
    ZEIT
  • Zertifizierung
    Case by case
  • Modellnummer
    SDD0,5-0,5
  • Min Bestellmenge
    1 Satz
  • Preis
    Case by case
  • Verpackung Informationen
    Holzschatulle
  • Lieferzeit
    Von Fall zu Fall
  • Zahlungsbedingungen
    T/T
  • Versorgungsmaterial-Fähigkeit
    Von Fall zu Fall

Kratzer Stäube optische Testgeräte Halbleiter-Oberflächendetektor 1,8 μM

Halbleiter-materieller Oberflächenfehler-Detektor

 

 

Anwendungen

Für das prozesskontrollierte und das Ertragsmanagement der leeren Maske auf den Gebieten der Halbleiteranzeige und

Chipherstellung der integrierten Schaltung, setzen wir optische Prüfungstechnologien des hohen Durchsatzes ein, um schnell zu machen und

genaue automatische Entdeckung für die Oberflächenfehler der leeren Maske. Entsprechend Berufsnutzerbedarfen

wir haben Reihe hohen Durchsatz MASKIEREN Inspektionsmaschinen mit zuverlässiger Qualität und hohen Kosten entwickelt

Leistungsverhältnis, Glassubstrat-, Masken- und Plattenherstellern helfen zu identifizieren und die Maske überwachen

Defekte, verringern das Risiko des Ertrags und ihre unabhängige Fähigkeit von R&D für Kerntechnologien zu verbessern.

 

Funktions-Prinzip

In Bezug auf Niveau und Art des Oberflächenfehlers, der telecentric Linse 4x, des spezifischen Winkelringlichtes und des Koaxiallichtes

Quelle werden als die Sichtannäherung vorgewählt. Wenn das Gerät läuft, bewegt sich die Probe entlang das X

Richtung und das Visionsmodul führt Defektentdeckung entlang der y-Richtung durch.

 

Eigenschaften

 Modell  SDD0.5-0.5

 Leistungsentdeckung

 Nachweisbare Defektart  Kratzer, wischt ab
 Nachweisbare Defektgröße  1μm

 Entdeckungsgenauigkeit

(gemessen)

 Entdeckung 100% von Defekten/Sammlung von

Defekte (Kratzer, Staub)

 Entdeckungs-Leistungsfähigkeit

 Minuten ≤10

(Messwert: 350mm x 300mm Maske)

 Optische Systemleistung

 Entschließung  1.8μm
 Lineare Wiedergabe  40x
 Sichtfeld  0.5mm x 0.5mm
 Blaulichtbeleuchtung  460nm, 2.5w

 

 Bewegungs-Plattform-Leistung

 

 

 X, y-Zweiachsenbewegung

Marmorcountertopflachheit: 2.5μm

Y-Achsenc$z-richtungs-Durchbruchpräzision: ≤ 10.5μm

Y-Achsenc$z-richtungs-Durchbruchpräzision: ≤8.5μm

 

Anmerkung: Kundengebundene Produktion verfügbar.

                                                                                                                

Entdeckungs-Bilder

Kratzer Stäube optische Testgeräte Halbleiter-Oberflächendetektor 1,8 μM 0

 

Unsere Vorteile

Wir sind Hersteller.

Reifer Prozess.

Antwort innerhalb 24 Arbeitsstunden.

 

Unsere ISO-Bescheinigung

Kratzer Stäube optische Testgeräte Halbleiter-Oberflächendetektor 1,8 μM 1

 

 

Teile unserer Patente

Kratzer Stäube optische Testgeräte Halbleiter-Oberflächendetektor 1,8 μM 2Kratzer Stäube optische Testgeräte Halbleiter-Oberflächendetektor 1,8 μM 3

 

 

Teile unserer Preise und Qualifikationen von R&D

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