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Scratches Dusts Semiconductor Surface Detection Equipment Resolution 1.8μM

Kratzer Stäube Halbleiter-Oberflächenerkennungsgeräte Auflösung 1,8 μM

  • Markieren

    Kratzer wischt Halbleiter-Oberflächen-Detektor 1.8μM ab

    ,

    Kratzer wischt Oberflächenfehler-Entdeckungs-Ausrüstung 1.8μM ab

    ,

    Kratzer der Oberflächenfehler-Entdeckungs-Ausrüstungs-1.8μm wischt ab

  • Größe
    1210 mm*1000 mm* 1445 mm, anpassbar
  • Kundengerecht
    Verfügbar
  • Garantiezeit
    1 Jahr oder von Fall zu Fall
  • VERSANDBEDINGUNGEN
    Durch Sea/Air/Multimodaler Transport, etc
  • Erkennbarer Fehlertyp
    Kratzer, Staub
  • Entschließung
    1,8 μm
  • Herkunftsort
    Chengdu, VR CHINA
  • Markenname
    ZEIT
  • Zertifizierung
    Case by case
  • Modellnummer
    SDD0,5-0,5
  • Min Bestellmenge
    1 Satz
  • Preis
    Case by case
  • Verpackung Informationen
    Holzschatulle
  • Lieferzeit
    Von Fall zu Fall
  • Zahlungsbedingungen
    T/T
  • Versorgungsmaterial-Fähigkeit
    Von Fall zu Fall

Kratzer Stäube Halbleiter-Oberflächenerkennungsgeräte Auflösung 1,8 μM

Kratzer wischt optischer Testgerät-Halbleiter-Oberflächendetektor 1.8μM ab
 
 
Anwendungen
Für das prozesskontrollierte und das Ertragsmanagement der leeren Maske auf den Gebieten der Halbleiteranzeige und
Chipherstellung der integrierten Schaltung, setzen wir optische Prüfungstechnologien des hohen Durchsatzes ein, um schnell zu machen und
genaue automatische Entdeckung für die Oberflächenfehler der leeren Maske. Entsprechend Berufsnutzerbedarfen
wir haben Reihe hohen Durchsatz MASKIEREN Inspektionsmaschinen mit zuverlässiger Qualität und hohen Kosten entwickelt
Leistungsverhältnis, Glassubstrat-, Masken- und Plattenherstellern helfen zu identifizieren und die Maske überwachen
Defekte, verringern das Risiko des Ertrags und ihre unabhängige Fähigkeit von R&D für Kerntechnologien zu verbessern.
 
Funktions-Prinzip
In Bezug auf Niveau und Art des Oberflächenfehlers, der telecentric Linse 4x, des spezifischen Winkelringlichtes und des Koaxiallichtes
Quelle werden als die Sichtannäherung vorgewählt. Wenn das Gerät läuft, bewegt sich die Probe entlang das X
Richtung und das Visionsmodul führt Defektentdeckung entlang der y-Richtung durch.
 
Eigenschaften

 Modell SDD0.5-0.5

 Leistungsentdeckung

 Nachweisbare Defektart Kratzer, wischt ab
 Nachweisbare Defektgröße 1μm

 Entdeckungsgenauigkeit
(gemessen)

 Entdeckung 100% von Defekten/Sammlung von
Defekte (Kratzer, Staub)

 Entdeckungs-Leistungsfähigkeit

 Minuten ≤10
(Messwert: 350mm x 300mm Maske)

 Optische Systemleistung

 Entschließung 1.8μm
 Lineare Wiedergabe 40x
 Sichtfeld 0.5mm x 0.5mm
 Blaulichtbeleuchtung 460nm, 2.5w

 
Bewegungs-Plattform-Leistung
 

 
X, y-Zweiachsenbewegung
Marmorcountertopflachheit: 2.5μm
Y-Achsenc$z-richtungs-Durchbruchpräzision: ≤ 10.5μm
Y-Achsenc$z-richtungs-Durchbruchpräzision: ≤8.5μm
 

Anmerkung: Kundengebundene Produktion verfügbar.

                                                                                                                
Entdeckungs-Bilder
Kratzer Stäube Halbleiter-Oberflächenerkennungsgeräte Auflösung 1,8 μM 0
 
Unsere Vorteile
Wir sind Hersteller.
Reifer Prozess.
Antwort innerhalb 24 Arbeitsstunden.
 
Unsere ISO-Bescheinigung
Kratzer Stäube Halbleiter-Oberflächenerkennungsgeräte Auflösung 1,8 μM 1
 
Teile unserer Patente
Kratzer Stäube Halbleiter-Oberflächenerkennungsgeräte Auflösung 1,8 μM 2Kratzer Stäube Halbleiter-Oberflächenerkennungsgeräte Auflösung 1,8 μM 3
 
Teile unserer Preise und Qualifikationen von R&D

Kratzer Stäube Halbleiter-Oberflächenerkennungsgeräte Auflösung 1,8 μM 4Kratzer Stäube Halbleiter-Oberflächenerkennungsgeräte Auflösung 1,8 μM 5

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

ZEIT-Gruppe, im Jahre 2018 gegründet, ist eine Firma, die auf Präzisionsoptik, Halbleitermaterialien und High-Teche Intelligenzausrüstungen gerichtet wird. Basiert auf unseren Vorteilen in der Präzisionsbearbeitung des Kernes und des Schirmes, hat optische Entdeckung und Beschichtung, ZEIT-Gruppe unsere Kunden mit kompletten Paketen von kundengebundenen und Standardproduktlösungen versehen.

 

Konzentriert auf technologische Innovationen, hat ZEIT-Gruppe mehr als 60 inländische Patente bis 2022 und stellte die sehr nahe Unternehmen-Collegeforschungszusammenarbeit mit Instituten, Universitäten und Industrieverband weltweit her. Durch Innovationen ist selbst-eigenes geistiges Eigentum und das Aufbauen der experimentellen Teams des Schlüsselprozesses, ZEIT-Gruppe eine Entwicklungsbasis für Ausbrütenhigh-tech-produkte und eine Ausbildungsbasis für Spitzenpersonal geworden.