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Semiconductor Surface Detector Systems Optical Testing Equipment 40x

Halbleiter-Oberflächendetektorsysteme Optische Prüfgeräte 40x

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    Halbleiter-Oberflächendetektor-optisches Testgerät 40x ZEIT

    ,

    Halbleiter-Oberflächendetektor 40x ZEIT

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    ZEIT-Halbleiter-Oberflächendetektor 40x

  • Größe
    1210 mm*1000 mm* 1445 mm, anpassbar
  • Kundengerecht
    Verfügbar
  • Garantiezeit
    1 Jahr oder von Fall zu Fall
  • Vergrößerung
    40x
  • Erkennbarer Fehlertyp
    Kratzer, Staub
  • Entschließung
    1,8 μm
  • Herkunftsort
    Chengdu, VR CHINA
  • Markenname
    ZEIT
  • Zertifizierung
    Case by case
  • Modellnummer
    SDD0,5-0,5
  • Min Bestellmenge
    1 Satz
  • Preis
    Case by case
  • Verpackung Informationen
    Holzschatulle
  • Lieferzeit
    Von Fall zu Fall
  • Zahlungsbedingungen
    T/T
  • Versorgungsmaterial-Fähigkeit
    Von Fall zu Fall

Halbleiter-Oberflächendetektorsysteme Optische Prüfgeräte 40x

Halbleiter-Oberflächendetektor-System-optisches Testgerät 40x

 

 

Anwendungen

Für das prozesskontrollierte und das Ertragsmanagement der leeren Maske auf den Gebieten der Halbleiteranzeige und

Chipherstellung der integrierten Schaltung, setzen wir optische Prüfungstechnologien des hohen Durchsatzes ein, um schnell zu machen und

genaue automatische Entdeckung für die Oberflächenfehler der leeren Maske. Entsprechend Berufsnutzerbedarfen

wir haben Reihe hohen Durchsatz MASKIEREN Inspektionsmaschinen mit zuverlässiger Qualität und hohen Kosten entwickelt

Leistungsverhältnis, Glassubstrat-, Masken- und Plattenherstellern helfen zu identifizieren und die Maske überwachen

Defekte, verringern das Risiko des Ertrags und ihre unabhängige Fähigkeit von R&D für Kerntechnologien zu verbessern.

 

Funktions-Prinzip

In Bezug auf Niveau und Art des Oberflächenfehlers, der telecentric Linse 4x, des spezifischen Winkelringlichtes und des Koaxiallichtes

Quelle werden als die Sichtannäherung vorgewählt. Wenn das Gerät läuft, bewegt sich die Probe entlang das X

Richtung und das Visionsmodul führt Defektentdeckung entlang der y-Richtung durch.

 

Eigenschaften

 Modell  SDD0.5-0.5

 Leistungsentdeckung

 Nachweisbare Defektart  Kratzer, wischt ab
 Nachweisbare Defektgröße  1μm

 Entdeckungsgenauigkeit

(gemessen)

 Entdeckung 100% von Defekten/Sammlung von

Defekte (Kratzer, Staub)

 Entdeckungs-Leistungsfähigkeit

 Minuten ≤10

(Messwert: 350mm x 300mm Maske)

 Optische Systemleistung

 Entschließung  1.8μm
 Lineare Wiedergabe  40x
 Sichtfeld  0.5mm x 0.5mm
 Blaulichtbeleuchtung  460nm, 2.5w

 

 Bewegungs-Plattform-Leistung

 

 

 X, y-Zweiachsenbewegung

Marmorcountertopflachheit: 2.5μm

Y-Achsenc$z-richtungs-Durchbruchpräzision: ≤ 10.5μm

Y-Achsenc$z-richtungs-Durchbruchpräzision: ≤8.5μm

 

Anmerkung: Kundengebundene Produktion verfügbar.

                                                                                                                

Entdeckungs-Bilder

Halbleiter-Oberflächendetektorsysteme Optische Prüfgeräte 40x 0

 

Unsere Vorteile

Wir sind Hersteller.

Reifer Prozess.

Antwort innerhalb 24 Arbeitsstunden.

 

Unsere ISO-Bescheinigung

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Teile unserer Patente

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Teile unserer Preise und Qualifikationen von R&D

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ZEIT-Gruppe, im Jahre 2018 gegründet, ist eine Firma, die auf Präzisionsoptik, Halbleitermaterialien und High-Teche Intelligenzausrüstungen gerichtet wird. Basiert auf unseren Vorteilen in der Präzisionsbearbeitung des Kernes und des Schirmes, hat optische Entdeckung und Beschichtung, ZEIT-Gruppe unsere Kunden mit kompletten Paketen von kundengebundenen und Standardproduktlösungen versehen.

 

Konzentriert auf technologische Innovationen, hat ZEIT-Gruppe mehr als 60 inländische Patente bis 2022 und stellte die sehr nahe Unternehmen-Collegeforschungszusammenarbeit mit Instituten, Universitäten und Industrieverband weltweit her. Durch Innovationen ist selbst-eigenes geistiges Eigentum und das Aufbauen der experimentellen Teams des Schlüsselprozesses, ZEIT-Gruppe eine Entwicklungsbasis für Ausbrütenhigh-tech-produkte und eine Ausbildungsbasis für Spitzenpersonal geworden.

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