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Glass Substrate Surface Defect Detection Equipment 1.8um

Ausrüstung zur Erkennung von Glassubstratoberflächendefekten 1,8 um

  • Markieren

    Glassubstrat-Oberflächenfehlerentdeckung 1.8um

    ,

    Glassubstrat-Oberflächenfehler-Entdeckungs-Ausrüstung

    ,

    Oberflächenfehler-Entdeckungs-Ausrüstung 1.8um

  • Größe
    Kundengerecht
  • Kundengerecht
    Verfügbar
  • Garantiezeit
    1 Jahr oder von Fall zu Fall
  • VERSANDBEDINGUNGEN
    Durch Sea/Air/Multimodaler Transport, etc
  • Herkunftsort
    Chengdu, VR CHINA
  • Markenname
    ZEIT
  • Zertifizierung
    Case by case
  • Modellnummer
    SDD-GS-X—X
  • Min Bestellmenge
    1 Satz
  • Preis
    Case by case
  • Verpackung Informationen
    Holzschatulle
  • Lieferzeit
    Von Fall zu Fall
  • Zahlungsbedingungen
    T/T
  • Versorgungsmaterial-Fähigkeit
    Von Fall zu Fall

Ausrüstung zur Erkennung von Glassubstratoberflächendefekten 1,8 um

Glassubstrat-Oberflächenfehlerdetektor

 

 

Anwendungen

Für das prozesskontrollierte und das Ertragsmanagement der Glassubstratherstellung, können wir Herstellern zu helfen

identifizieren Sie und überwachen Sie die Maskendefekte, verringern Sie das Risiko des Ertrags und ihre unabhängige Fähigkeit von R&D für zu verbessern

Kerntechnologien.

 

Funktions-Prinzip

Unter Verwendung des spezifischen Winkelringlichtes, der koaxiallichtquelle und laufenden des Mechanismus, zum das Richtungs zu sammeln und zu analysieren

Fotografieinformationen, automatica Entdeckung für die Defekte auf der Glassubstratoberfläche so verwirklichend.

 

Eigenschaften

 Modell  SDD-GS-X-X

 Leistungsentdeckung

 Nachweisbare Defektart  Kratzer, wischt ab
 Nachweisbare Defektgröße  1μm
 Entdeckungsgenauigkeit (gemessen)

 Entdeckung 100% von Defekten/Sammlung von

Defekte (Kratzer, Staub)

 Entdeckungs-Leistungsfähigkeit

 Minuten ≤10

(Messwert: 350mm x 300mm Maske)

 Optische Systemleistung

 Entschließung 1.8μm
 Lineare Wiedergabe  40x
 Blickfeld 0.5mm x 0.5mm
 Blaulichtbeleuchtung  460nm, 2.5w

 

 Bewegungs-Plattform-Leistung

 

 X, y-Zweiachsenbewegung

Marmorcountertopflachheit: 2.5μm

Y-Achsenc$z-richtungs-Durchbruchpräzision: ≤ 10.5μm

Y-Achsenc$z-richtungs-Durchbruchpräzision: ≤8.5μm

Anmerkung: Kundengebundene Produktion verfügbar.

                                                                                                                

Entdeckungs-Bilder

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Unsere Vorteile

Wir sind Hersteller.

Reifer Prozess.

Antwort innerhalb 24 Arbeitsstunden.

 

Unsere ISO-Bescheinigung

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Teile unserer Patente

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Teile unserer Preise und Qualifikationen von R&D

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